Ha sido un gran esfuerzo impulsado completamente por los científicos del IFAE y todo el departamento técnico del IFAE, incluyendo mecánica precisa, electrónica, DAQ (Data Acquisition) y pruebas ópticas y simulaciones detalladas.

Los requisitos básicos de los deflectores instrumentados son un desafío técnico. La reflectividad total de la superficie a 1064 nm se ha mantenido al nivel del 0,5% y la dispersión total alrededor de 500 ppm. Esto requirió un pulido preciso del material y la aplicación de capas de revestimiento antirreflectante. Al estar suspendido por un par de cables, no es posible el enfriamiento activo y los cables de lectura se han minimizado para evitar afectar el rendimiento de la carga útil y los sistemas de atenuación sísmica. Por lo tanto, se han implementado soluciones DAQ tanto cableadas como inalámbricas. Lo más importante es que las condiciones de vacío ultra alto en las torres (con un nivel de vacío de 1E-9 mbar) impusieron estrictas restricciones a todos los materiales para evitar que los contaminantes afectaran a los espejos, y forzaron un diseño de PCB novedoso con bajo consumo de energía y una disipación de calor eficiente. Además, el sistema DAQ deflector no debe interferir con el resto de la electrónica de la torre, que rige los sistemas de bucle de retroalimentación que controlan la posición del espejo.

Finalmente, el peso total del nuevo dispositivo se modificó en tan solo 100 gramos respecto del peso de la versión no instrumentada para facilitar la integración en el sistema de suspensión. El deflector está equipado con 76 fotosensores a base de Silicio adecuados para condiciones de vacío ultra alto y complementado con un revestimiento antirreflectante, como resultado de un proceso de I + D de dos años impulsado por IFAE y llevado a cabo junto con Hamamatsu en Japón.